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絕緣材料測(cè)試儀器

高阻計(jì) 擊穿電壓測(cè)定儀表面體積電阻率測(cè)試儀耐電弧測(cè)試儀高壓/漏電起痕試驗(yàn)儀低壓/漏電起痕試驗(yàn)儀導(dǎo)電與防靜電材料電阻率介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀高溫直流測(cè)試系統(tǒng)

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HC2661型手持式四探針測(cè)試儀器可測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測(cè)試的要求，也可對(duì)分立電阻進(jìn)行測(cè)量，USB接口可為用戶提供遠(yuǎn)程控制及測(cè)試數(shù)據(jù)的統(tǒng)計(jì)和分析。由于采用了電池和外接電源兩種供電方式，既能適應(yīng)固定場(chǎng)合對(duì)元器件進(jìn)行檢測(cè)，又可隨身攜帶以滿足測(cè)試人員的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試要求。
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HC2810B型LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器

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HC2810B型LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器是一種測(cè)試速度快、精度高、測(cè)試范圍寬的通用阻抗測(cè)量?jī)x器。四個(gè)測(cè)試頻率點(diǎn)，Z高至10kHz, 30Ω 、100Ω兩種不同信號(hào)源輸出阻抗可使儀器測(cè)量結(jié)果與眾多LCR結(jié)果相，同時(shí)也能適應(yīng)陶瓷電容器對(duì)測(cè)量電平的要求。
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HC2826型LCR數(shù)子電橋檢測(cè)儀器

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HC2825A型高速數(shù)子電橋檢測(cè)儀器

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HC2825A型高速數(shù)子電橋檢測(cè)儀器： HC2825A型高速LCR數(shù)字電橋是本公司重點(diǎn)推出的新一代元件參數(shù)測(cè)試儀器。該產(chǎn)品可提供高達(dá)15ms/次的測(cè)量速度、50Hz100kHz十點(diǎn)測(cè)試頻率、以1mV步進(jìn)的0.01V-1.0V可編程信號(hào)電平、5位讀數(shù)分辨率、多種源內(nèi)阻選擇和測(cè)試功能,可滿足生產(chǎn)線質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗(yàn)及元件設(shè)計(jì)和評(píng)估的測(cè)量要求。
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HC多功能/LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器

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HC華測(cè)廠家熱銷LCR數(shù)字電橋檢測(cè)儀器

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華測(cè)高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置測(cè)試儀器符合標(biāo)準(zhǔn)：高壓漏電起痕試驗(yàn)機(jī)適用于對(duì)電工電子產(chǎn)品、家用電器及其材料進(jìn)行耐電痕化和蝕損的試驗(yàn)，模擬在工頻（48Hz - 62Hz）下，用液體污染物和斜面試樣，通過耐電痕化和蝕損的測(cè)量評(píng)定在嚴(yán)酷環(huán)境條件下使用的電氣絕緣材料的耐電痕化和蝕損等級(jí)。本機(jī)是嚴(yán)格按照GB/T6553-2003 及 IEC60587-1984設(shè)計(jì)制造。
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HCLD-Ⅲ型華測(cè)實(shí)驗(yàn)儀器-高壓漏電起痕試驗(yàn)裝置

更新時(shí)間：2024-07-15

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高壓漏電試驗(yàn)儀采用控制系統(tǒng)，擯棄了現(xiàn)有的低壓切斷原原理，采用高壓真空切斷技術(shù)，使試驗(yàn)過程合理。采用5組電流傳感器用以控制每組試驗(yàn)的高壓切斷，使數(shù)據(jù)采集精確，同時(shí)本設(shè)備采用電力系統(tǒng)過壓過流保護(hù)裝置。
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